주사터널링현미경 STM

1 개요

scanning tunneling microscope; STM

주사 터널링 현미경; 주사 터널 현미경, 주사형 터널현미경, 훑기 꿰뚫기 현미경

• 표면의 원자 수준 이미지를 얻을 수 있는 현미경
• 시료 표면에 전자를 쏘아준 후, 전자가 터널링을 일으키는 현상으로부터 시료의 구조를 알아내는 현미경
• 전자의 양자역학적 터널링을 이용
• 시료 표면에 수평으로 0.1 nm, 수직으로 0.01 nm 정도의 높은 해상도 가능
• 전도성 팁을 시료 표면에 가까이 한 상태에서 팁과 시료 사이에 바이어스 전압을 걸어주어 전자가 진공의 에너지 장벽을 꿰뚫고 한 쪽에서 다른 쪽으로 넘어가도록 함
• 1981년 IBM 취리히 연구소에서 최초 개발

2 같이 보기

• 현미경
• 주사 전자 현미경

4 참고

• http://en.wikipedia.org/wiki/Scanning_tunneling_microscope
• http://terms.naver.com/entry.nhn?docId=1251933&cid=40942&categoryId=32251